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4 分光分析
X線光電子分光分析法、ラマン分光分析法、赤外分光分析法で化学結合状態を、反射光速電子線回折法で結晶性及び結晶配向性の評価・解析を行います。ラマン分光分析は顕微分光専用で、試験片の加熱・冷却測定、赤外分光分析は積分反射、微小ATR、赤外線放射率等の特殊測定が可能です。
下記の単価には消費税を含みません

種別 項目 単位 単価(円)
ラマン分光分析 試料調製 -- 別途相談
ポイント測定 基本料 -- 50,000
ポイント測定 1測定点 15,000
マッピング測定 基本料 -- 250,000
マッピング 1点 500
加熱・冷却測定・紫外・赤外励起 -- 別途相談
解析及び補足データが必要なとき -- 別途相談

種別 項目 単位 単価(円)
赤外分光分析
(FTIR)
試料調製 -- 別途相談
測定 透過法(通常測定) 1試料 33,000
  追加1試料 10,000
解析及び補足データが必要なとき -- 別途相談

種別 項目 単位 単価(円)
赤外線放射率
間接測定
(室温反射率測定から室温〜1000℃(5温度水準)の放射率を算出する)
1試料 58,000
追加1試料 12,000

種別 項目 単位 単価(円)
紫外可視近赤外分光測定
第1試料測定 1試料 35,000
追加測定 追加1試料 6,000

種別 項目 単位 単価(円)
発光特性分析 試料調製(ペレット作製) 1試料 3,000
相対輝度、色度座標決定 1試料 22,000
PL測定
 可視光域 250〜840nm 1測定 12,000
 赤外光域 840〜1700nm* 1測定 12,000
   *その他消耗品(LN2) が必要となります。 1式 別途相談
PLE測定
 励起光域 250〜900nm 1測定 12,000

上記の単価には消費税を含みません

詳細料金表 1-1 | 1-2 | 1-3 | 1-4 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9〜10

JFCC

間接測定法による赤外線放射率の測定

FT-IRによる積分球を用いた間接測定法は、赤外線放射率を短時間で、確実に測定することが可能

「間接測定法」と、試料を加熱して放射率を求める「直接法」との比較
直接法の問題点
・測定に時間がかかる(1日1試料程度)。
・室温近傍での測定が難しい。
間接測定法の利点
・測定は室温で行い、測定時間も数分。
・粉、粒、繊維状の試料も測定可能。

「間接測定法」と、試料を加熱して放射率を求める「直接法」との比較
日本遠赤外線協会のラウンドロビン試験で、放射率測定用標準試料(SiC焼結体)を測定。

本装置による測定データは、各種の直接法による得られた測定データのばらつきの範囲内。


積分球の外観 積分球の概略構成
図1. 積分球の外観
図2. 積分球の概略構成

間接測定法における赤外線放射率の算出方法
① 室温での分光反射率を測定。
② 1−反射率=放射率より、室温での分光放射率を算出。
③ 任意温度での黒体のデータと比較し、その温度での放射率を算出。

詳細料金表 1-1 | 1-2 | 1-3 | 1-4 | 1-5 | 1-6 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9〜10
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お問合せ・お申込先
〒456-8587 名古屋市熱田区六野二丁目4番1号
(一財) ファインセラミックスセンター 材料評価・試作グループ
TEL 052-871-3379(ダイヤルイン)
FAX 052-871-3599
e-mail:analysis@
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