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5 結晶・形態解析
固体試料を対象として、X線回折および走査型電子顕微鏡による結晶・構造解析やエネルギー分散型X線分析による微小領域の組成分析を行います。
下記の単価には消費税を含みません
種別 項目 単位 単価(円)
X線回折
(XRD)
60kV,50mA,2kW
試料調製 1試料 12,000〜24,000
測定
常温測定 チャートのみ 1測定 30,000〜
データ解析(相同定) 1データ 20,000〜
残留応力測定(あおり角+方向のみ) 1式 106,000〜
データ解析(残留応力解析) 1式 39,000〜
その他データ解析 -- 別途相談

種別 項目 単位 単価(円)
X線回折
(高出力XRD)
50kV,300mA,18kW
試料調製 1試料 12,000〜24,000
測定
常温測定 チャートのみ 1測定 60,000
データ解析(相同定) 1データ 20,000
その他データ解析 -- 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
高温X線回折
(高温XRD)
45 kV,40 mA,1.8 kW
試料調製(粉砕) 1試料 8,000〜
測定
 温度帯:〜1200 ℃
 雰囲気:大気、真空、N2、Ar
高温測定(測定温度:〜3点)(相同定含む) 1式 154,000〜
追加測定 1測定 20,000
追加分データ解析(相同定) 1データ 17,000

種別 項目 単位 単価(円)
高分解能
走査電子顕微鏡試験
(FE-SEM)
試料調製
 表面観察用
  観察前準備(蒸着、試料台固定等) 1試料 11,000〜
  表面Arイオンミリング 1領域 16,000〜
 断面観察用
  観察前準備(蒸着、試料台固定等) 1試料 11,000〜
  樹脂包埋 1試料 8,000〜
  機械研磨 1試料 10,000〜
  断面Arイオンミリング 1領域 32,000〜
  FIB-SEM 1領域 84,000〜
その他特殊な処理を伴うとき -- 別途相談
撮影
10万倍未満 1視野 45,000〜
  1視野増すごと 12,000
10万倍以上 -- 80,000〜
解析及び各種画像処理等
※調製・観察に条件検討が必要な場合は別途相談
-- 別途相談

種別 項目 単位 単価(円)
エネルギー分散型
X線分析試験
(FE-SEM-EDS)
試料調製及び撮影 1試料 FE-SEMに準ずる
組成分析(EDS)B(ボロン)〜
定性分析 1点 30,000
線又は面分析 1元素 30,000
線又は面分析(追加元素) 1元素増すごと 20,000
各種画像処理 -- 別途相談

種別 項目 単位 単価(円)
後方散乱
電子回折試験
(FE-SEM-EBSD)
試料調製及び撮影 1試料 FE-SEMに準ずる
EBSD測定
 標準測定 1領域 180,000〜
 データ解析(IQ、IPF、CD、PF等) 1データ 180,000〜
 その他のデータ解析   別途相談
wilkinson法による結晶歪解析用測定 1領域 360,000〜
 wilkinson法による結晶歪解析 1データ 150,000〜

種別 項目 単位 単価(円)
FIB-SEM
3次元解析試験
(FIB-SEM-3D)
試料調製(前処理) 1試料 FE-SEMに準ずる
FIB加工条件検討 1領域 100,000〜

SEM像スライス撮影(100枚)

1式 250,000
追加撮影(101枚〜) 100枚 200,000
3次元構築 1式 別途相談
各種データ解析 1式 別途相談

上記の単価には消費税を含みません

詳細料金表 1-1 | 1-2 | 1-3 | 1-4 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9〜10

JFCC

超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM)

細く絞った電子線を資料表面に照射し、そこから放出される電子線やX線などを検出することで、表面の凹凸、組成、結晶情報などを得ることが可能

超高分解能走査型電子顕微鏡 顕微鏡写真
結晶コントラスト観察例と最表面微細構造観察例
超高分解能走査型電子顕微鏡の特徴

詳細料金表 1-1 | 1-2 | 1-3 | 1-4 | 1-5 | 1-6 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9〜10
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〒456-8587 名古屋市熱田区六野二丁目4番1号
(一財) ファインセラミックスセンター 材料評価・試作グループ
TEL 052-871-3379(ダイヤルイン)
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