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ナノ解析
 最新鋭電子顕微鏡による原子レベルの構造解析とシミュレーションによる理論計算を行い、新材料開発を支援する。
信頼性・機能評価
 保有する高い評価技術と各種最先端装置を用いて、新材料の機械的、熱的、電気的などの特性評価に関して、「精度良く信頼性の高いデータ」を提供する。
材料開発
 材料開発に役立つ、コーティング装置、焼成プロセス装置、焼結シミュレーション技術等を活用することにより、新材料開発を支援する。

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2011年度 研究成果 2011年度の一覧に戻る

ナノ解析
2011-1 電子線ホログラフィーを用いた材料、デバイスの電場、磁場観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測
2011-2 環境顕微鏡 〜高分解能観察に優れた仕様〜
  環境セルへのガス導入を行うことで、実材料の使用環境を模擬したその場観察を行うことが可能となる
2011-3 環境顕微鏡 〜高温・常圧その場観察を可能にする仕様〜
  環境セルへのガス導入を行うことで、実材料の使用環境を模擬した高温その場観察を行うことが可能となる
2011-4 FIB-SEMデュアルビーム装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成する
2011-5 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
  超高分解能SEMにより表面の凹凸、組成、結晶情報などを得る
信頼性・機能評価
2011-6 携帯電話等に使われる3GHz付近の高精度な誘電特性評価
  複素比誘電率の評価を高精度にすることより、誘電体デバイスや高周波回路基板等の設計用基礎データを提供する
2011-7 発光材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
  光物性(発光・励起)と化学結合状態・構造の多面的評価を通じて発光材料の開発に貢献
2011-8 パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
  SiCウエハの欠陥の多面的評価を通じてパワーデバイス・青色LEDの開発に貢献
2011-9 薄膜材料の電子・光物性評価技術
  電子物性(キャリアタイプ・濃度・移動度)と光物性(光学定数n・k、膜厚)の評価・連携を通じて電子・光学材料薄膜の開発に貢献
2011-10 材料の信頼性評価技術 -機械特性評価と非破壊検査の融合-
  各種物性評価と非破壊評価技術の連携により、材料の信頼性を評価・解析
2011-11 材料の熱的性質評価技術 -熱伝導率・熱膨張率等の評価・解析-
  固体材料の熱伝導率・熱拡散率・比熱容量・熱膨張率を材料に合わせた適切な方法を用いて評価
2011-12 ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
  ガス吸着脱離挙動による多孔質材料の表面特性の評価 触媒材料や電極材料の設計・開発に活用できる
2011-13 サブナノ〜ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体の透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を非破壊で評価
材料開発
2011-14 第一原理計算による材料設計
  高精度な量子力学計算により原子・電子状態を求め、材料特性の理論的解明や新たな材料の設計に役立てる
2011-15 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子合成
  球状で粒子径が揃った微粒子が合成可能2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
2011-16 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)、スパッタ、CVDなどにより、様々な材料に薄膜から厚膜をコーティング
2011-17 材料開発のための焼結シミュレーションと各種焼結技術
  ・種々の雰囲気で高度な焼結が可能な装置の保有と、蓄積した豊富な経験による材料開発への効率化などに貢献
・シミュレーション技術による材料・焼結工程設計の指針提示
2011-18 材料開発を支える高精度加工技術
  様々な材料開発における評価に必要なテストピース加工で研究をサポートします


2010年度 研究成果

ナノ解析
2010-1 収差補正STEMによる微構造解析と分析
  収差補正走査透過電子顕微鏡による高分解能微構造解析と局所組成・状態分析
2010-2 電子線ホログラフィーを用いた材料、デバイスの電場、磁場観察
  機能材料の電場や磁場を直接的かつ定量的に観察、計測
2010-3 環境制御型透過電子顕微鏡
  環境セルへのガス導入を行うことで、実材料の使用環境を模擬した透過電子顕微鏡観察を行うことが可能となる
2010-4 デュアルビーム(FIB-SEM)装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い、取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成する
2010-5 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
  超高分解能SEMにより表面の凹凸、組成、結晶情報などを得る
信頼性・機能評価
2010-6 材料の信頼性評価技術 -機械特性評価および非破壊検査技術-
  各種物性評価および非破壊分析を通じて、材料の信頼性を評価・解析
2010-7 材料の熱的性質評価技術 -熱伝導率・熱膨張率等の評価・解析-
  固体材料の熱伝導率・熱拡散率・比熱容量・熱膨張率を適切な方法を用いて評価
2010-8 薄膜材料の電子・光物性評価技術
  電子物性(キャリアタイプ・濃度・移動度)と光物性(光学定数n・k、膜厚)の精密評価を通じて電子・光学材料薄膜の開発に貢献
2010-9 マイクロ波帯の電波吸収・誘電特性評価技術
  高周波特性(電波吸収量、誘電率)の精密測定電波吸収体や誘電体デバイス材料の設計・評価に活用
2010-10 発光材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
  光物性(発光・励起)と化学結合状態・構造の多面的評価を通じて発光材料の開発に貢献
2010-11 4探針SPMによるナノ〜ミクロン領域の電気特性直接評価技術
  固相界面・粒界などの局所領域において、電流−電圧特性・電気抵抗などの物性を直接的に評価
2010-12 ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
  ガス吸着脱離挙動による多孔質材料の表面特性の評価触媒材料や電極材料の設計・開発に活用できる
2010-13 サブナノ〜ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体の透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を非破壊で評価
材料開発
2010-14 材料開発の期間短縮、コスト低減を支援する焼結、加工技術
  原料調整から焼結までの高度な装置の保有と、蓄積した豊富な経験による材料開発への効率化な貢献
シミュレーション技術による材料・焼結工程設計の指針提示。難加工材料に対する高精度な加工設備、技術の保有
2010-15 耐熱・耐環境膜から機能性薄膜までのコーティング技術
  電子ビームPVD、スパッタ、CVDなどの気相プロセスにより、様々な材料に薄膜から厚膜をコーティング


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