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2017年度 研究成果 2017年度の一覧に戻る

評価技術紹介
T-1 ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
  長年培ってきた高精度な試験評価技術及び高性能な各種研究設備をご利用頂くことが出来ます

加工技術
T-2 最先端研究を支える加工技術の紹介
  研究および材料評価に適した加工を行なうための切断、研削、研磨の高精度加工技術を保有

プロセス技術
T-3 セラミックスの各種焼結技術
  セラミックスの材料開発に不可欠な焼結技術について、保有する多様な装置を用いた高度な各種焼結技術を紹介する
T-4 噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
  粒子径が揃った微粒子が合成可能
2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
T-5 各種屈折率のエアロゲル合成
  微構造を制御した各種屈折率を有するシリカエアロゲルの合成・頒布
T-6 電子ビームPVD法によるコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)により、様々な基材に高速でセラミックスコーティングが可能

特性評価技術
熱特性評価技術
T-7 フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
  フラッシュ法の多層解析により、基材およびボンドコート上に成膜された遮熱コーティング膜の熱伝導率評価が可能
T-8 薄板試料の熱伝導率評価技術
  厚さ1mm以下の薄板試料でも、厚さ方向・面内方向の熱伝導率(熱拡散率)が評価可能
T-9 固体材料の比熱容量測定
  フラッシュ法、入力補償型DSC法、熱流束型DSC法による  室温から高温までの比熱容量測定が可能
T-10 積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
  FTIRに積分球を取り付けることで拡散成分を含めた分光反射率の測定が可能
電気特性評価技術
T-11 液体材料の誘電特性評価
  同軸プローブ法を用いることで、食品や薬品等の液状またはゲル状材料の少量試料による誘電特性評価が可能
T-12 誘電材料のミリ波帯評価技術
  車載用衝突防止レーダー等のミリ波電子デバイスにおける安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与
T-13 誘電材料の温度特性評価技術
  誘電材料の温度特性を把握することで、電子デバイスの安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与
T-14 電気抵抗評価技術
  ・被測定物の抵抗値により測定方法を2種類から選択
・高温(〜1200℃)及び各種雰囲気での測定が可能
T-15 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
  固体酸化物形燃料電池(SOFC)の単セルの評価技術と電解質のイオン導電性評価技術
T-16 4探針SPMによる局所物性評価
  固相界面・粒界などの局所領域の電流−電圧特性・電気抵抗などの物性を直接評価
機械特性評価技術
T-17 材料の機械特性評価技術 〜材料強度、力学的特性、長期信頼性評価〜
  様々な使用環境における各種材料の強度、力学的特性、長期信頼性に関する評価技術
T-18 炭素繊維およびセラミックス繊維の引張特性評価技術
  CFRP等繊維強化複合材料に用いられる直径数ミクロンの無機繊維の単繊維引張強さ等を実測
T-19 高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術
  国内屈指の高温高圧水中環境における耐腐食性及び耐摩耗性の評価技術
T-20 多様な規格に対応した表面形状の評価技術
  最新の3次元表面粗さ解析ソフト導入により多様な規格に対応 また、凹凸部の自動体積計算など迅速に3次元解析が可
構造特性評価技術
T-21 サブナノ〜ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
  液体,気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を評価
T-22 粉体特性の評価技術
  粉体粒子や多孔質体の物性を様々な手法で測定
T-23 機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術
  化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献
T-24 SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
  緻密電解質上に形成された多孔質電極のガス透過率を非破壊で評価可能

分析解析技術
ミクロ分析解析技術
T-25 X線回折による様々な測定・解析技術
  X線を使用し、様々な光学系を組み合わせることで目的とする情報を取得することが可能
T-26 X線CT画像データを用いた三次元解析技術
  X線CTで得られた数百枚の断面画像を用いて検査体内部の三次元情報から非破壊での構造解析が可能
T-27 デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成
T-28 積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
  積層構造体の断面SEM観察を行う際、観察目的や分析内容によって最適な試料調整法を選択
T-29 後方散乱電子回折(EBSD)法を用いた応用解析技術
  後方散乱電子回折(EBSD)法により、それぞれの結晶粒の方位やずれ角の解析、結晶相分布解析が可能
ナノ分析解析技術
T-30 超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM)低加速電圧観察・分析技術
  低加速電圧&無蒸着にて、観察や元素分析を行うことで高加速電圧では得られない情報の取得が可能
T-31 エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
  エッチピット法により、SiCウエハ欠陥を簡便かつ安価で多面的に評価・解析が可能
T-32 モノクロメータ収差補正STEMによる微細構造解析・分析
  収差補正STEMの空間分解能と高精度EELSによる観察・分析
T-33 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
  対物レンズの球面収差および焦点外し量を最適化することによりソフトマテリアル中の軽元素を可視化する
T-34 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測


2016年度 研究成果 2016年度の一覧に戻る

全般
T-1 ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
  長年培ってきた高精度な試験評価技術及び高性能な各種研究設備をご利用頂くことが出来ます

プロセス技術
T-2 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
  これまでに培った原料調製から焼結までの高度な技術と保有する多様な装置により、セラミックスの材料開発に貢献する
T-3 高精度加工技術
  切断・研削・研磨の高精度加工装置を保有し、目的に合った高精度な試験片作製が可能
T-4 電子ビームPVDによるコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)により、様々な基材に高速でセラミックスなどのコーティングが可能
T-5 様々な焼結現象を模擬できる焼結シミュレーションソフトウェア
  焼結シミュレーションソフトウェアSinterProは、様々な焼結材料の開発支援や焼結問題解決に活用可能

合成技術
T-6 噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
  粒子径が揃った微粒子が合成可能
2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
T-7 液相合成によるナノ粒子合成技術
  粒子径が揃ったナノ粒子合成が可能
・微粒子への表面コートが可能
T-8 各種屈折率のエアロゲル合成
  微構造を制御し各種屈折率を有するシリカエアロゲルの合成・頒布

機械特性
T-9 炭素およびセラミックス繊維の引張り強さ、密着性評価技術
  CFRP等繊維強化複合材料に用いられる繊維の引張り強さおよび樹脂との密着性(界面せん断強度)を実測
T-10 高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術
  国内屈指の高温高圧水中環境における耐腐食性及び耐摩耗性の評価技術
T-11 多様な規格に対応した表面形状の評価技術
  最新の3次元表面粗さ解析ソフト導入により多様な規格に対応また、凹凸部の自動体積計算など迅速に3次元解析が可能
T-12 機械特性に関する評価技術
  セラミックスを中心とした各種材料の機械的特性に関する基礎物性および信頼性評価技術の紹介

電気特性
T-13 誘電材料のミリ波帯評価技術
  車載用衝突防止レーダー等のミリ波電子デバイスにおける安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与
T-14 誘電材料の温度特性評価技術
  誘電材料の温度特性を把握することで、電子デバイスの安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与
T-15 電気抵抗評価技術
  被測定物の抵抗値により測定方法を2種類から選択
・高温(〜1200℃)及び各種雰囲気での測定も可能

熱特性
T-16 薄板試料の熱伝導率評価技術
  厚さ1mm以下の薄板試料でも、厚さ方向・面内方向の熱伝導率(熱拡散率)が評価可能

粉体特性
T-17 粉体特性の評価技術
  粉体粒子や多孔質体の物性を様々な手法で測定

結晶・形態解析
T-18 後方散乱電子回折法による結晶方位解析技術
  後方散乱電子回折(EBSD)法により、結晶粒一つ一つの方位や粒径分布、隣り合う結晶粒のずれ角等の解析が可能
T-19 X線回折による結晶相同定
  高出力X線源(15kW)による結晶相の同定及び格子定数の測定
薄膜試料への対応も可能(出力1.6kW)
T-20 機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術
  化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献

非破壊試験・表面分析
T-21 造影剤を使ったX線CT撮影技術
  表面開口したクラックに造影剤を含浸して識別感度を向上させ、X線CTにより内部の三次元形状を明瞭化する
T-22 デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成
T-23 積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
  FTIRに積分球を取り付けることで、拡散成分を含めた分光反射率を測定することができる

微構造解析
T-24 モノクロメータ収差補正STEMによる微細構造解析・分析
  収差補正STEMの空間分解能と高精度EELSによる観察・分析
T-25 積層構造体の断面SEM観察用試料調製法検討
  積層構造体の断面SEM観察を行う際、観察目的や分析内容によって最適な試料調製法を選択
T-26 超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM)
  低加速電圧&無蒸着にて、電子線に弱い材料や非導電性材料の試料再表面の微細構造観察を行うことが可能
T-27 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
  対物レンズの球面収差および焦点外し量を最適化することによりソフトマテリアル中の軽元素を可視化する
T-28 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測

特殊解析
T-29 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
  固体酸化物形燃料電池(SOFC)の単セルの評価技術と電解質のイオン導電性評価技術
T-30 超高真空中破壊試験による材料組織内在ガスの質量分析
  10-7Pa以下の超高真空下での曲げおよび引張試験を行い、試料から放出される微量ガスを四重極質量分析計により分析
T-31 サブナノ〜ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を、非破壊で評価
T-32 エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
  エッチピット法により、SiCウエハ欠陥を簡便かつ安価で多面的に評価・解析が可能
T-33 ガラス精密研磨におけるCMP用スラリー寿命評価技術
  研磨用スラリーあるいは研磨用パッドの劣化評価
・精密研磨用スラリーあるいは研磨用パッドの開発支援
T-34 SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
  緻密電解質上に形成された多孔質電極のガス透過率を非破壊で評価可能



ナノ解析
 最新鋭電子顕微鏡による原子レベルの構造解析とシミュレーションによる理論計算を行い、新材料開発を支援します。
信頼性・機能評価
 保有する高い評価技術と各種最先端装置を用いて、新材料の機械的、熱的、電気的などの特性評価に関して、「精度良く信頼性の高いデータ」を提供します。
材料開発
 材料開発に役立つ、コーティング装置、焼成プロセス装置、焼結シミュレーション技術等を活用することにより、新材料開発を支援します。

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2015年度 研究成果 2015年度の一覧に戻る

ナノ解析
 最新鋭電子顕微鏡による原子レベルの構造解析とシミュレーションによる理論計算を行い、新材料開発を支援します。
2015-1 後方散乱電子回折法による結晶方位解析技術
  後方散乱電子回折(EBSD)法により、結晶粒一つ一つの方位や粒径分布、隣り合う結晶粒のずれ角等の解析が可能
2015-2 X線回折による結晶相同定
  高出力X線源(15kW)による結晶相の同定及び格子定数の測定薄簿膜試料への対応も可能(出力1.6kW)
2015-3 機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術
  化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献
2015-4 X線CT画像データを用いた三次元構造解析技術
  X線CTで得られた数百枚の断面画像を用いて検査体の内部の三次元情報から構造解析が可能
2015-5 積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
  積層構造体の断面SEM観察を行う際、観察目的や分析内容によって最適な試料調整が可能
2015-6 デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成
2015-7 収差補正モノクロメータSTEMによる局所・高エネルギー分解能EELS測定
  収差補正とモノクロメータを装備したSTEMにより、原子レベルの空間分解能と高エネルギー分解能EELS測定が可能
2015-8 環境電子顕微鏡によるガス中ナノスケール解析
  ガス環境下でのその場観察により、実材料の使用環境を模擬したナノスケール解析が可能
2015-9 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測
信頼性・機能評価
 1987年以来育成を重ねた高い評価技術と各種最先端装置を用い、新材料の機械的・熱的・電気的などの特性評価に関わる、精度の良い信頼性の高いデータを提供します。
2015-10 ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
  高性能な各種研究設備を完備し、原料から焼結、加工まで、また基礎から応用までの研究開発を行っています。これらの研究開発技術に基づく分析・測定及び設備をご利用頂くことが出来ます。
2015-11 様々な焼結現象を模擬できる焼結シミュレーションソフトウェア
  焼結シミュレーションソフトウェアSinterProは、様々な焼結材料の開発支援や焼結問題解決に活用可能
2015-12 機械的特性の評価技術
  室温〜高温まで各種材料の機械的特性に関する基礎物性 および信頼性評価技術
2015-13 高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術
  国内屈指の高温高圧水中環境における耐腐食性及び耐摩耗性の評価技術
2015-14 多様な規格に対応した表面形状の評価技術
  最新の3次元表面粗さ解析ソフト導入により多様な規格に対応 また、凹凸部の自動体積計算など迅速に3次元解析が可能
2015-15 マイクロ波〜ミリ波における誘電特性と電波吸収特性の評価技術
  無線通信技術を用いた電子デバイスの仕様設計・性能確認に必要不可欠な材料の電気特性を評価
2015-16 誘電材料の温度特性評価技術
  誘電材料の温度特性を把握することで、電子デバイスの安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与
2015-17 電気抵抗評価技術
  ・被測定物の抵抗値により測定方法を2種類から選択
・高温(〜1200℃)及び各種雰囲気での測定も可能
2015-18 固体材料の熱特性評価技術
  測定温度範囲の拡大、測定対象の薄板対応化等により、従来より広範囲の評価が可能
2015-19 粉体特性の評価技術
  粉体粒子や多孔質体の物性を様々な手法で測定
2015-20 サブナノ〜ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を、非破壊で評価
2015-21 超高真空中破壊試験による材料組織内在ガスの質量分析
  10-7Pa以下の超高真空下での曲げおよび引張試験を行い、試料から放出される微量ガスを四重極質量分析計により分析
2015-22 エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
  エッチピット法により、SiCウエハ欠陥を簡便かつ安価で多面的に評価・解析します
2015-23 ガラス精密研磨におけるCMP用スラリー寿命評価技術
  ・研磨用スラリーあるいは研磨用パッドの劣化評価
・精密研磨用スラリーあるいは研磨用パッドの開発支援
2015-24 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
  固体電解質形燃料電池(SOFC)の単セルの評価技術と電解質のイオン導電性評価技術
2015-25 SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
  緻密電解質上に形成された多孔質電極のガス透過率を非破壊で評価可能
2015-26 走査型電子顕微鏡による無蒸着、低加速電圧試料表面観察技術
  低加速電圧&無蒸着にて、電子線に弱い材料や非導電性材料の試料再表面の微細構造観察・解析が可能
材料開発
 材料開発に役立つ、第一原理計算、コーティング装置、焼成プロセス装置、焼結シミュレーション技術等を活用することにより、新材料開発を支援します。
2015-27 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
  これまでに培った原料調製から焼結までの高度な技術と保有する多様な装置により、セラミックスの材料開発に貢献
2015-28 セラミックスの加工負荷低減高精度加工
  熱負荷抑制および高精度貼付け可能な試料固定技
2015-29 電子ビームPVDによるセラミックスコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)により、様々な基材に高速でセラミックスコーティングが可能
2015-30 噴霧熱分解法による高性能セラミックス粒子合成技術
  ・粒子径が揃った微粒子が合成可能
・2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
2015-31 液相合成によるナノ粒子合成技術
  ・粒子径が揃ったナノ粒子合成が可能
・微粒子への表面コートが可能
2015-32 各種屈折率エアロゲルの合成
  微構造を制御し各種屈折率を有するシリカエアロゲルの合成・頒布


2014年度 研究成果 2014年度の一覧に戻る

ナノ解析
 最新鋭電子顕微鏡による原子レベルの構造解析とシミュレーションによる理論計算を行い、新材料開発を支援します。
2014-1 超高分解能走査型電子顕微鏡による低加速・無蒸着観察技術
  低加速電圧&無蒸着にて、電子線に弱い材料や非導電性材料の試料再表面の微細構造観察が可能
2014-2 デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成
2014-3 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測
2014-4 後方散乱電子回折法による結晶方位マッピング
  後方散乱電子回折(EBSD)法により、結晶粒一つ一つの方位や粒径分布、隣り合う結晶粒のずれ角等の解析が可能
2014-5 X線回折による結晶相同定
  高出力X線源(15kW)により、結晶相を同定し、格子定数を測定 〜薄膜試料への対応も可能〜
信頼性・機能評価
 1987年以来育成を重ねた高い評価技術と各種最先端装置を用い、新材料の機械的・熱的・電気的などの特性評価に関わる、精度の良い信頼性の高いデータを提供します。
2014-6 ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
  ・高性能な各種研究・評価設備を完備
・基礎から応用までの研究開発を支援
・原料調整から焼結、加工、各種特性評価設備の利用
2014-7 粉体特性の評価技術
  粉体粒子や多孔質体の物性を様々な手法で測定
2014-8 液相合成によるセラミックス・金属微粒子合成技術
  ・粒子径が揃った微粒子が合成可能
・2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
2014-9 非破壊による材料評価技術
  試験体を破壊しない(非破壊)で、材料内部の欠陥・劣化状況、3次元構造等を、X線透過法により観察・解析します
2014-10 マイクロ波〜ミリ波における誘電特性と電波吸収特性の評価技術
  無線通信技術を用いた電子デバイスの仕様設計・性能確認に必要不可欠な材料の電気特性を評価
2014-11 電気特性評価(抵抗率)
  被測定物の抵抗値により測定方法を2種類から選択:高温(〜1200℃)及び各種雰囲気での測定も可能
2014-12 燃料電池・固体電解質の電気化学特性評価技術
  固体電解質形燃料電池(SOFC)単セルの特性評価技術と電解質のイオン導電性評価技術
2014-13 SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術
  簡便・高精度で多孔質/緻密質積層体の多孔質膜面内方向のガス透過率を評価
2014-14 機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術
  化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献
2014-15 機械特性に関する材料評価技術
  様々な使用環境条件における、各種材料の基礎物性や長期信頼性に関する機械的特性の評価
2014-16 熱的特性評価技術 -熱伝導率・熱膨張率等の評価・解析-
  各種材料の熱伝導率・熱拡散率・比熱容量・熱膨張率を材料に合わせた適切な方法を用いて評価
2014-17 エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
  エッチピット法により、SiCウエハ欠陥を簡便かつ安価で多面的に評価・解析します
2014-18 サブナノ〜ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
  液体,気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を、非破壊で評価
2014-19 高温高圧水環境下における評価技術(水熱腐食、摩耗)
  高温高圧水中における耐腐食性及び耐摩耗性を評価
2014-20 破壊試験時に放出される材料中の微量ガス分析
  超高真空(10-7 Pa以下)で曲げ/引張破壊試験を行い、材料から放出される微量ガスを、四重極質量分析計により検出
材料開発
 材料開発に役立つ、第一原理計算、コーティング装置、焼成プロセス装置、焼結シミュレーション技術等を活用することにより、新材料開発を支援します。
2014-21 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
  これまでに培った原料調製から焼結までの高度な技術と多様な保有装置を利用し、セラミックスの材料開発を支援します
2014-22 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
  様々な基材への薄膜から厚膜のコーティングを、電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)、スパッタ、CVD等により実施可能
2014-23 シリカエアロゲルの製造と頒布
  超軽量で極めて高い断熱特性を持つ透明材料であるシリカエアロゲルを、独自の技術で製造して頒布します
2014-24 セラミックスの高精度加工技術
  材料/部材の評価試験に必要な、多種多様な形状をもつ試験片の加工に応えます


2013年度 研究成果 2013年度の一覧に戻る

ナノ解析
 最新鋭電子顕微鏡による原子レベルの構造解析とシミュレーションによる理論計算を行い、新材料開発を支援します。
2013-1 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量計測
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測
2013-2 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
  対物レンズの球面収差および焦点外し量を最適化することによりソフトマテリアル中の軽元素を可視化する
2013-3 環境顕微鏡 〜高分解能観察・高温その場観察に優れた仕様〜
  ガス中での微細構造解析を可能とする2種類の透過電子顕微鏡観察技術
2013-4 並列クラスター計算機を用いた第一原理計算と材料設計
  高精度な量子力学計算により原子・電子状態を求め、材料特性の理論的解明や新たな材料の設計に役立てる
2013-5 デュアルビーム(FIB-SEM)装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い、取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成
2013-6 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
  超高分解能SEMにより表面の凹凸、組成、結晶情報などを得る
2013-7 走査型電子顕微鏡(SEM)による太陽光パネル観察事例
  SEM観察およびエネルギー分散型X線分析(EDS)を用いた構造解析
信頼性・機能評価
 1987年以来育成を重ねた高い評価技術と各種最先端装置を用い、新材料の機械的・熱的・電気的などの特性評価に関わる、精度の良い信頼性の高いデータを提供します。
2013-8 材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
  化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献
2013-9 電子・光学薄膜材料の開発に貢献する電子・光物性評価技術
  電子物性(キャリアタイプ・濃度・移動度)と光物性(光学定数n・k、膜厚)の評価・連携を通じて電子・光学材料薄膜の開発に貢献
2013-10 ゼロ温度係数ウイルマイト基板のミリ波誘電特性評価
  ミリ波ネットワークアナライザを用いて、電子回路基板等のミリ波帯における基板の誘電特性を評価
2013-11 LTCC用セラミックス基板等のマイクロ波誘電特性評価
  無線通信用モジュールで使われるLTCC用セラミックス材料等の、マイクロ波帯おける誘電特性評価に貢献
2013-12 積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
  積分球付きFTIR装置により、室温の測定データから高温の拡散成分を含めた分光反射率を計算(JIS規格化済み)
2013-13 材料の熱伝導率評価技術 〜薄膜試料から断熱材まで〜
  フィルム材〜厚板、低熱伝導材〜高熱伝導材など種々の材料の熱特性評価が可能
2013-14 パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
  SiCウエハの欠陥の多面的評価を通じてパワーデバイス・青色LEDの開発に貢献
2013-15 破壊試験時に放出される材料中の微量ガス分析
  10-7Pa以下の超高真空での曲げおよび引張試験を実施し、破面から放出される微量ガスを四重極質量分析計により分析
2013-16 ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
  触媒材料や電極材料の設計・開発に活用できるガス吸着脱離挙動による多孔質材料の表面特性の評価
2013-17 高温・高湿度雰囲気のガスシール材の評価技術
  高温や高湿度雰囲気中でシール材で密閉した管内を減圧にすることで大気との差圧によりガスシール性を評価する技術
2013-18 サブナノ〜ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体の透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を非破壊で評価
2013-19 差分画像処理法を用いたX線透過試験による非破壊検査
  差分画像処理X線透過法により、材料中の微細欠陥を検出
2013-20 X線CTで撮影した3次元画像データを用いた内部構造の解析
  多孔体を撮影したX線CTデータを用いて内部の構造を3次元解析する
材料開発
 材料開発に役立つ、第一原理計算、コーティング装置、焼成プロセス装置、焼結シミュレーション技術等を活用することにより、新材料開発を支援します。
2013-21 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子の合成
  球状で粒子径が揃った微粒子が合成可能
2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
2013-22 断熱特性に優れたシリカエアロゲルの製造と頒布について
  低熱伝導率のシリカエアロゲルで、かつ低密度・高透明性を有し、化学的安定性に優れる
2013-23 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)、スパッタ、CVDなどにより、様々な材料に薄膜から厚膜をコーティング
2013-24 焼結材料開発を支援するシミュレーション技術
  焼結材料開発の高効率化や製造工程の問題解決の支援ツールとして 、JFCC独自のシミュレーション技術を活用
2013-25 セラミックスの研究と材料開発を支える高精度加工技術
  多岐に渡るセラミックス研究の試験評価をバックアップ
2013-26 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
  これまでに培った原料調製から焼結までの高度な技術と保有する多様な装置により、セラミックスの材料開発に貢献する
2013-27 ハニカム構造セラミックスの特性評価用試験片の作製
  排気ガス浄化触媒等に使用されているハニカム構造セラミックスの特性評価用試験片加工および測定


2012年度 研究成果 2012年度の一覧に戻る

ナノ解析
 最新鋭電子顕微鏡による原子レベルの構造解析とシミュレーションによる理論計算を行い、新材料開発を支援します。
2012-1 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測
2012-2 環境顕微鏡 〜高分解能観察・高温その場観察に優れた仕様〜
  ガス中での微細構造解析を可能とする2種類の透過電子顕微鏡観察技術
2012-3 デュアルビーム(FIB-SEM)装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い、取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成
2012-4 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
  超高分解能SEMにより表面の凹凸、組成、結晶情報を取得
2012-5 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察
  対物レンズの球面収差および焦点外し量を最適化し、ソフトマテリアル中の軽元素を可視化
信頼性・機能評価
 1987年以来育成を重ねた高い評価技術と各種最先端装置を用い、新材料の機械的・熱的・電気的などの特性評価に関わる、精度の良い信頼性の高いデータを提供します。
2012-6 ゼロ温度係数ウイルマイト基板のミリ波誘電特性評価
  ミリ波ネットワークアナライザを用いて、電子回路基板等のミリ波帯における基板の誘電特性を評価
2012-7 X線を用いた非破壊検査技術
  差分画像処理X線透過法により、材料中の微細欠陥を検出
2012-8 材料の熱伝導率評価技術 〜薄膜試料から断熱材まで〜
  フィルム材〜厚板、低熱伝導材〜高熱伝導材など種々の材料の熱特性評価が可能
2012-9 材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
  化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献
2012-10 パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
  SiCウエハの欠陥の多面的評価を通じてパワーデバイス・青色LEDの開発に貢献
2012-11 薄膜材料の電子・光物性評価技術
  電子物性(キャリアタイプ・濃度・移動度)と光物性(光学定数n・k、膜厚)の評価・連携を通じて電子・光学材料薄膜の開発に貢献
2012-12 ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
  ガス吸着脱離挙動による多孔質材料の表面特性の評価 触媒材料や電極材料の設計・開発に貢献
2012-13 サブナノ〜ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体の透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を非破壊で評価
材料開発
 材料開発に役立つ、第一原理計算、コーティング装置、焼成プロセス装置、焼結シミュレーション技術等を活用することにより、新材料開発を支援します。
2012-14 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)、スパッタ、CVDなどにより、様々な材料に薄膜から厚膜をコーティング
2012-15 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子合成
  球状で粒子径が揃った微粒子が合成可能 2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
2012-16 材料開発や製造工程問題解決のための焼結シミュレーション
  セラミックス材料開発の高効率化や製造工程の問題解決の支援ツールとして 、JFCC独自の本技術を活用
2012-17 セラミックス研究を支える高精度加工技術
  さまざまな分野に関係するセラミックス研究を高精度加工技術によりバックアップ
2012-18 第一原理計算による材料設計
  高精度な量子力学計算により原子・電子状態を求め、材料特性の理論的解明や新たな材料の設計に貢献


2011年度 研究成果 2011年度の一覧に戻る

ナノ解析
2011-1 電子線ホログラフィーを用いた材料、デバイスの電場、磁場観察
  機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測
2011-2 環境顕微鏡 〜高分解能観察に優れた仕様〜
  環境セルへのガス導入を行うことで、実材料の使用環境を模擬したその場観察を行うことが可能となる
2011-3 環境顕微鏡 〜高温・常圧その場観察を可能にする仕様〜
  環境セルへのガス導入を行うことで、実材料の使用環境を模擬した高温その場観察を行うことが可能となる
2011-4 FIB-SEMデュアルビーム装置を用いた三次元解析技術
  FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成する
2011-5 高分解能走査型電子顕微鏡による表面微細構造観察
  超高分解能SEMにより表面の凹凸、組成、結晶情報などを得る
信頼性・機能評価
2011-6 携帯電話等に使われる3GHz付近の高精度な誘電特性評価
  複素比誘電率の評価を高精度にすることより、誘電体デバイスや高周波回路基板等の設計用基礎データを提供する
2011-7 発光材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術
  光物性(発光・励起)と化学結合状態・構造の多面的評価を通じて発光材料の開発に貢献
2011-8 パワーデバイス・青色LED開発を支援するSiCの欠陥分析技術
  SiCウエハの欠陥の多面的評価を通じてパワーデバイス・青色LEDの開発に貢献
2011-9 薄膜材料の電子・光物性評価技術
  電子物性(キャリアタイプ・濃度・移動度)と光物性(光学定数n・k、膜厚)の評価・連携を通じて電子・光学材料薄膜の開発に貢献
2011-10 材料の信頼性評価技術 -機械特性評価と非破壊検査の融合-
  各種物性評価と非破壊評価技術の連携により、材料の信頼性を評価・解析
2011-11 材料の熱的性質評価技術 -熱伝導率・熱膨張率等の評価・解析-
  固体材料の熱伝導率・熱拡散率・比熱容量・熱膨張率を材料に合わせた適切な方法を用いて評価
2011-12 ガス吸着・脱離挙動による多孔質材料の表面機能評価
  ガス吸着脱離挙動による多孔質材料の表面特性の評価 触媒材料や電極材料の設計・開発に活用できる
2011-13 サブナノ〜ミクロンオーダー細孔径分布測定による機能性評価
  液体、気体の透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を非破壊で評価
材料開発
2011-14 第一原理計算による材料設計
  高精度な量子力学計算により原子・電子状態を求め、材料特性の理論的解明や新たな材料の設計に役立てる
2011-15 噴霧熱分解法による高機能セラミックス微粒子合成
  球状で粒子径が揃った微粒子が合成可能2相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能
2011-16 耐熱・耐環境厚膜から機能性薄膜までのコーティング技術
  電子ビームPVD(国内唯一の大型装置)、スパッタ、CVDなどにより、様々な材料に薄膜から厚膜をコーティング
2011-17 材料開発のための焼結シミュレーションと各種焼結技術
  ・種々の雰囲気で高度な焼結が可能な装置の保有と、蓄積した豊富な経験による材料開発への効率化などに貢献
・シミュレーション技術による材料・焼結工程設計の指針提示
2011-18 材料開発を支える高精度加工技術
  様々な材料開発における評価に必要なテストピース加工で研究をサポートします


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