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2012-9

材料開発の構造・化学結合設計を支援する分光分析技術


技術のポイント

化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献



保有技術・設備

Raman
分子・格子振動を測定
化学結合状態の決定 結晶多形の決定
ひずみの検出 温度依存性の評価
ラマン信号と発光の対応  
XPS
組成と化学結合状態を同時に測定
高分解能0.5eV :Al Kα モノクロX線源
nmオーダーの深さ分解能

装置更新:主な仕様
励起源:355,488.532,785nm
マッピング・深さプロファイル・3次元計測
測定例 SiCの結晶多形・歪発生のマッピング
FTIR
分子・格子振動を測定するので化学結合状態を知ることができる。
JFCCの特長:輻射率の測定
分光光度計・エリプソメトリ
紫外−赤外域の光吸収や屈折率を知ることができる。
光学材料の特性評価に適する。
PL・PLE装置
紫外−赤外域の発光や励起スペクトルを測定することができる。発光特性評価に適する。


適用分野
 
電子機能材料開発
 ・透明導電膜
 ・ワイドギャップ半導体 (SiC, ダイヤ)
 ・カーボン材料 (電極、フィラー等)

光学材料開発
 ・発光材料 (紫外-可視-赤外)
 ・光学膜 (高反射、低反射)
 ・窓材料
 ・蛍光増白剤

その他
 ・断熱材料



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