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2013-13

材料の熱伝導率評価技術 〜 薄膜試料から断熱材まで 〜


技術のポイント

フィルム材〜厚板、低熱伝導材〜高熱伝導材など種々の材料の熱特性評価が可能



保有技術・設備

温度波熱分析法装置
薄膜・薄板の厚さ方向の熱拡散率が測定可能
  *試料厚:数10μm〜1mm程度
 精密な試料加工が不要
保護熱板法装置
超低熱伝導率を測定可能
  *熱伝導率:0.001〜1 W/(m・K)
 雰囲気圧力や温度を可変しての測定可能

厚さ方向の熱拡散率
試料 熱拡散率 m
温度波
熱分析法
レーザ
フラッシュ法
アルミナ 0.9×10-5(0.25mm) 1.0×10-5(1mm)
ジルコニア 1.0×10-6(0.20mm) 1.1×10-6(1mm)
フィルム材 1.5×10-7(0.05mm) ×
( )内は試料厚さ
図1. 低熱伝導率材の雰囲気圧力依存性
レーザフラッシュ法装置
種々の熱拡散率測定が可能
 (1) 単一材の厚さ方向(通常法)
 (2) 単一材の面方向(ラメラ法)
 (3) 基材上の膜(多層解析)
光交流法装置
薄膜・薄板の面方向の熱拡散率を測定可能 
  *試料厚:数10μm〜0.5mm程度


適用分野
 
・ 基板、放熱板の伝熱特性評価
・ 遮熱コーティングや断熱素材の熱伝導率評価
・ 真空断熱材の熱伝導率の雰囲気圧力依存性評価

熱拡散率・熱伝導率の他にも、比熱容量や熱膨張率の評価・解析も行っています



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