第34回 2023年度JFCC研究成果発表会にご参加いただき、ありがとうございました
2023年度JFCC研究成果発表会を下記の通り、4年ぶりに会場で開催いたしました。
開催概要
日時:2023年7月21日(金)13:00~17:00
会場:愛知県産業労働センター「ウインクあいち」2F:大ホール、5F:小ホール1・2
13:00~13:05 | 主催者挨拶 |
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13:05~14:00 | 特別講演 「固体表面における電子や分子の振る舞い」 自然科学研究機構(NINS) 機構長 川合眞紀 氏 |
14:00~14:40 | ショートプレゼンテーション I 脱炭素 4件(14:00~) 次世代電池 3件(14:20~) |
14:40~14:50 | 休憩 |
14:50~15:30 | ショートプレゼンテーション II パワーデバイス 1件(14:50~) バイオ 1件(15:00~) インフォマティクス 2件(15:05~) 先進微構造解析 1件(15:20~) |
~17:00 | ポスターセッション 52件 |
発表タイトル/アピールポイント(研究成果)・技術のポイント(試験評価技術)
※形式 ★:重点口頭発表[10分]、☆:ショートプレゼンテーション[5分]
研究成果
脱炭素
R-1☆カーボンナノチューブ自立膜のガス透過特性
高透過性を有する垂直配向ストレートチャンネル膜を合成【技術シーズ:SiC表面分解法】
R-2☆酸素極側界面微細構造に及ぼすLSCFへの異種元素添加の影響
酸素極側界面での高抵抗SrZrO3相形成を抑制【技術シーズ:電極/電解質界面微細構造制御技術】
R-3☆エントロピー安定化による耐熱性酸化物の結晶構造制御
耐熱性酸化物の多元素系化による相安定性向上【技術シーズ:均一固溶体形成/結晶構造解析】
R-4 Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物に対する環境遮蔽膜の耐食設計
多元系計算状態図を用いた損傷度予測と実証【技術シーズ:状態図計算/溶融物に対する腐食試験】
R-5 Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物による多結晶Yb3Al5O12の微構造変化
環境遮熱膜候補材の腐食機構の解析【技術シーズ:STEM-EDS、Pythonによるデータ解析】
R-6 内殻電子励起スペクトル計算を用いたナノ構造分析
Al、O等のK端スペクトル計算の適用範囲拡大【技術シーズ:第一原理計算、コア・ホール計算】
R-7 アルミナの粒界移動の起源
アルミナ膜の粒界移動の起源となる格子欠陥種を推定【技術シーズ:18O2を用いた酸化膜中の物質移動解析】
R-8 高温水蒸気二相環境に曝された金属膜の酸化に伴う裏面からの水素放出
金属膜の水蒸気酸化に伴い膜裏面から放出されるH2を定量【技術シーズ:二相環境下における膜中の物質移動解析】
R-9☆亜臨界/超臨界水中における光ファイバーの光透過損失のその場評価
高温高圧環境下で光ファイバーの光透過スペクトルを計測【技術シーズ:光透過スペクトル計測】
次世代電池
R-10★チタン酸リチウムランタン単結晶による高リチウムイオン伝導の実証
従来の酸化物固体電解質で最高のリチウムイオン伝導実現【技術シーズ:走査電子顕微鏡、インピーダンス測定】
R-11 全固体電池用固体電解質におけるLiイオン伝導機構
固体電解質における原子配置とイオン伝導機構の解明【技術シーズ:欠陥を高濃度に含む構造の理論計算】
R-12 Liイオン電池用酸化物固体電解質-正極膜の作製と構造解析
配向構造を有する正極-固体電解質の原子レベル構造解析【技術シーズ:化学溶液法/ナノ構造解析】
R-13☆全固体Naイオン電池のオペランドSEM-EDS観察
新たな電子顕微鏡評価技術で全固体Na+電池の反応を観る。【技術シーズ:オペランドSEM-EDS計測技術、機械学習】
R-14 燃料電池空気極材料LaCoO3のH+トラッピングエネルギー解析
電極材料用混合伝導体における基礎特性の理論的予測【技術シーズ:プロトントラッピングの理論計算】
R-15☆酸フッ化物Pb2OF2におけるフッ化物イオン拡散機構
フッ化物イオン伝導体となり得る無機結晶の探索【技術シーズ:第一原理計算/遷移状態探索】
R-16 フッ化物電池合材負極In/LaF3のS/TEM解析
二次電池材料開発への応用が期待できるメカニズム解析【技術シーズ:走査/透過電子顕微鏡法(S/TEM)】
R-17 ランタン酸ハロゲン化物中のハロゲン化物イオン伝導機構
新規ハロゲン化物イオン伝導体のイオン伝導機構の解析【技術シーズ:網羅的点欠陥計算/移動エネルギー計算】
パワーデバイス
R-18★X線の異常透過を利用したGa2O3結晶の欠陥イメージング技術
結晶内部の欠陥の可視化技術【技術シーズ:異常透過を利用したX線トポグラフィー】
R-19 モデルスクラッチによるGaNウエハ加工変質層厚の非破壊検査法開発
スクラッチ形状から加工変質層厚の推定【技術シーズ:多光子励起顕微鏡、欠陥構造解析】
R-20 GaN結晶の光学特性に影響を及ぼす転位の構造評価
デバイス特性に悪影響を及ぼす転位の構造的特徴の解明【技術シーズ:明視野・暗視野法/大角度収束電子線回折法】
R-21 常圧プラズマを用いたアルミニウム表面の直接窒化技術
大気圧下でアルミニウム基材表面を高速窒化しAlN層を形成【技術シーズ:高周波アークプラズマ照射】
バイオ
R-22☆グラフェンサンドイッチ法による電子線低耐性試料の電子顕微鏡観察
電子線照射に弱い湿潤試料の電子顕微鏡観察【技術シーズ:グラフェン担体/グラフェンサンドイッチ】
R-23 擬似体液を用いたアパタイト形成能評価に関する国際規格の改定
日本発の国際規格(ISO23317)の改定による国際貢献【技術シーズ:擬似体液(SBF)試験法】
インフォマティクス
R-24★セラミックス部材製造プロセスのミクロ/マクロシミュレーション
成形~焼結の微構造と形状を解析-予測【技術シーズ:粉体成形~焼結シミュレーション】
R-25☆JFCCにおける第一原理計算を基盤とするMIからMDXへの取り組み
MDXにより全く新しい強誘電体材料を開発【技術シーズ:第一原理計算、MI、MDX】
先進微構造解析
R-26★分割型STEM検出器を用いたゼオライト原子構造直接観察
最先端の検出器・結像技術を用いた電子線敏感材料の観察【技術シーズ:OBF STEM法】
R-27 HAADF STEM像のノイズ低減:原子位置計測における有効性
ノイズ低減による原子位置計測精度の向上【技術シーズ:機械学習(スパースコーディング)】
R-28 SrCrO3への電子線照射による酸素欠損の導入とその挙動の観察
電子顕微鏡電子線照射を利用した材料探索【技術シーズ:走査透過電子顕微鏡】
試験評価技術
T-0 ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用
長年培ってきた高精度な試験評価技術および高性能な各種研究設備をご利用頂くことが出来ます。
加工・プロセス
T-1 セラミックスの加工技術
高精度加工装置および技術を保有
研究および材料評価に適した試験片加工が可能
T-2 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
高度なセラミックス製造プロセス技術によりセラミックスの材料開発を支援
(酸化物系・非酸化物系構造材料、各種機能性材料に対応可)
T-4 電子ビームPVDによる先進汎用コーティング技術
国内最大級の電子ビームPVD装置により、多種多様なセラミックスコーティングの高速成膜が可能
T-6 焼結シミュレーションSinterPro-新材料開発の支援ツール-
焼結シミュレーションソフトウェアにより焼結部材開発時の課題を解決し、開発の短縮化・高効率化に貢献
機械特性
T-9 高温雰囲気における機械特性評価
最高1500 ℃の環境下で、JIS規格(R1604)に準じたセラミックスの曲げ強度試験を実施
T-10 SEPB法による高靱性材料の破壊靭性評価技術
超硬合金やジルコニアなどの高靱性材料の破壊靭性評価SEPB(Single Edge Precracked Beam)法が可能
T-11 強化繊維の引張り特性評価技術
ハンドリングによるダメージを極力抑えて直径10 μm程度の繊維1本または繊維束の状態で引張試験を実施可能
T-12 炭素繊維等の樹脂との密着性評価
樹脂に繊維を1本包埋した複合材料を作製し、引張応力負荷時の繊維の破断挙動から繊維-樹脂間の密着性を評価
熱特性
T-13 薄膜試料から断熱材までの熱特性評価技術
バルク試料だけでなく原材料粉やフィルムといった様々な材料形態に対応した熱伝導率評価が可能
T-15 各手法による固体の比熱容量測定~低温から高温まで~
フラッシュ法、入力補償型DSC法、熱流束型DSC法
各手法を用いて低温から高温までの比熱容量測定が可能
T-17 高温X線回折を用いた粉末試料の熱膨張率評価技術
通常、熱膨張率測定はバルク試料を用意する必要があるが本手法では粉末試料にて熱膨張率評価を行うことが可能
電気特性
T-18 ミリ波帯での高精度評価技術 ~5G通信、自動運転への貢献~
ミリ波帯での無線通信デバイス向け材料の誘電特性および電波吸収特性の高精度な評価
T-19 複合構造におけるGHz帯 複素誘電率の抽出評価
多層構造・セル構造の複素誘電率(ε’-iε’’)を導出する自由空間法Sパラメータ評価+解析プロセスを新たに構築
T-24 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
固体酸化物形燃料電池(SOFC)単セルの様々な発電特性評価と固体電解質のイオン導電性の評価が可能
構造特性
T-26 サブナノ~ミクロンオーダーの細孔径分布測定と機能性評価
液体、気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布とガス透過率を評価
T-28 X線CTによる材料評価技術
【直交型(一般的)】JFCCでは3種類のX線管球を選択可能
【斜め照射型】基板形状の試料を切り出し不要で撮影可能
T-32 高温環境下における残留応力評価技術
残留応力を有する材料の昇温による応力緩和の様子や熱膨張差を持つ膜/基板の高温環境下での膜の応力を評価可能
微構造解析
T-33 エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
ウエハ中の結晶欠陥情報を安価かつ多面的評価が可能
パワーデバイスの信頼性向上に有用な情報を提供
T-36 EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
EBSD-Wilkinson法は、EBSD-KAM等による歪み解析では検出が困難な微小歪みを検出することが可能
T-37 EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
従来のEBSD法では結晶相分離が困難な材料系に対して、EDS元素分析と組み合わせることで相分離解析が可能
T-38 FIB-SEMを用いた3次元構築
FIB-SEM像と最新材料科学向けソフトウェアAvizoとの連携による高精度3次元情報の提供
T-40 大気圧走査電子気顕微鏡による電気化学反応その場観察
大気圧走査電子顕微鏡への電気化学反応システム導入により、液中反応のナノスケールその場観察を実現
T-41 ナノシールドによるNaイオンの移動抑制技術
ナノシールドを粉末試料用に改良し、イオン移動抑制層に応用することで組成ずれを防いだ電子顕微鏡観察が可能