T-31 2019 |
|
|
|
|
|||||||||||||
目的に合った「調製・装置・条件」にて観察・分析を実施 |
インクの表面の低加速電圧SEM観察 |
・試料極表面の異物・析出物の観察・解析 ・非導電性材料の表面微細構造観察 ・結晶粒径分布解析 ・積層構造材料の断面観察および組成分布解析 等 |
2019年度
T-31 2019 |
|
|
|
|
|||||||||||||
目的に合った「調製・装置・条件」にて観察・分析を実施 |
インクの表面の低加速電圧SEM観察 |
・試料極表面の異物・析出物の観察・解析 ・非導電性材料の表面微細構造観察 ・結晶粒径分布解析 ・積層構造材料の断面観察および組成分布解析 等 |