2022年度

JFCC研究成果集

新時代のマテリアル戦略を支える新材料開発と先端解析技術

6試験評価技術 / 微構造解析

T-41

2022

SDGs

先進分析TEM JEM-F200のご紹介

SDGs

技術のポイント

極低倍から原子レベルまで同一のTEMで微構造観察・元素分析が可能な汎用TEM

装置概要

日本電子(JEOLJEM-F200

主な仕様

《TEM本体》収差補正器なし

・電子銃:Cold-FE電子銃

・TEM分解能:0.23 nm(構造像)@200 kV
・STEM分解能:0.16 nm@200 kV

・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV、60 kV

《各種検出器》

・EDS検出器:日本電子 JED-2300 SDD
       100 mm2 ×2本 (1.7 sr
・EDSアナライザー:Thermo Scientific Pathfinder
・カメラ:Gatan Oneview CMOS

・STEM明視野/暗視野検出器、反射電子検出器

適用分野

・TEM/STEM観察全般

・高感度EDS元素分析

・オープンラボ利用、単発の機器利用にも対応