標準物質

Reference Materials

粒度分布測定用標準粉体（リファパウダー）

概要

JFCCと装置メーカーの共同開発により値付けされた信頼性の高い実用標準粉体で粒度分布測定用の基準としての利用が可能です。
タイプは５種類あり、関連する詳細データ等はJFCC-TR（テクニカルレポート）の測定手順書（物質、測定原理毎に25種類）、および測定データ（物質、測定原理、測定装置毎に80種類）として同時頒布しておりますのでご利用ください。

特長

試料の物性が明らかです。
長期に渡り安定した供給ができます。
市販されている主要粒度分布測定装置にて値付けされています。
試料の調整方法が測定原理毎に規定されています。

用途

使用粒度分布測定装置の状態把握（良否判定）
試料前処理等、調整方法の評価
測定条件・手順等、測定技術の評価
被測定粉体の値付けの基準

レーザー回折散乱法（マスターサイザー）による測定結果

頒布価格（税抜）
１セット場合	\12,000 （パウダー１、手順書１、データ１）
個別の場合	リファパウダー各7,000円／1瓶 (10g入) 測定手順書各4,000円／1資料測定データ各2,000円／1資料

リファパウダー（５種類各10g 瓶入り）
品名	物質	型式
リファパウダー（アルミナ）	Al₂O₃	RP-1
リファパウダー（炭化ケイ素）	SiC	RP-2
リファパウダー（窒化ホウ素）	BN	RP-3
リファパウダー（窒化ケイ素）	Si3N4	RP-4
リファパウダー（チタン酸バリウム）	BaTiO₃	RP-5

測定手順書（24種類）
測定原理	RP-1用	RP-2用	RP-3用	RP-4用	RP-5用
レーザー回折散乱法	1-1	1-2	1-3	1-4	1-5
遠心沈降光透過法	2-1	2-2	2-3	2-4	2-5
Ｘ線透過法	3-1	3-2	--	3-4	3-5
遮光法	4-1	4-2	4-3	4-4	4-5
電気的検知帯法	5-1	5-2	5-3	5-4	5-5

測定データ JFCC-TR（80種類）
測定原理		メーカー：測定装置		RP-1 Al₂O₃	RP-2 SiC	RP-3 BN	RP-4 Si₃N₄	RP-5 BaTiO₃
1	レーザー回折散乱法	01	セイシン企業：LMS-24	1011	1012	1013	1014	1015
		02	堀場製作所：LA-700	1021	1022	1023	1024	1025
		03	堀場製作所：LA-500	1031	1032	1033	1034	1035
		04	日機装：Microtrac FRA	1041	1042	1043	1044	1045
		05	日機装：Microtrac SPA	1051	1052	1053	1054	1055
		06	島津製作所：SALD2000	1061	1062	1063	1064	1065
		07	ニューメタル&ケミカルスCo：CILAS HR850B	1071	1072	1073	1074	1075
		08	日本電子：HELOS	1081	1082	1083	1084	1085
		09	日本ベル：MasterSizer	1091	1092	--	1094	1095
		10	日本ベル：MasterSizerX	1101	1102	1103	1104	1105
		11	日科機：LS130	1111	1112	1113	1114	1115
2	遠心沈降光透過法	01	堀場製作所：CAPA-700	2011	2012	2013	2014	2015
3	Ｘ線透過法	01	日機装：BI-XDC	3011	3012	--	3014	3015
3	Ｘ線透過法	02	兼松エレクトロニクス：SediGraph5100	3021	3022	--	3024	3025
4	遮光法	01	セントラル科学貿易：CIS-1	4011	4012	4013	4014	4015
5	電気的検知帯法	01	日科機：Multisizer II	5011	5012	5013	5014	5015
5	電気的検知帯法	02	イトマンエンジニアリング：MP-1100	5021	5022	5023	--	--

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