4研究成果 ／ 環境・資源
R-18
2026
サブナノ制御アモルファスネットワーク細孔構造の直接評価
アピールポイント
0.5 nm未満の平均貫通細孔径の直接評価が可能
【技術シーズ：ガス分離膜／X線小角散乱】
背景・課題
・無機ガスの分子サイズは0.26～0.55 nmであり、サブナノサイズの細孔径制御を必要とするが、0.5 nm未満の貫通細孔径を直接測定する手段がない。
・ガス透過モデル、種々のガス透過率による細孔構造の評価は多くの測定データを必要とし、CO2等はガス吸着の影響を受けやすい。
解決手段
・X線小角散乱法により、ガス分離機能を有する分離活性層細孔構造を直接評価
・円筒形状の分離活性層を粉末化、同一厚さのサンプルを測定
成果・新規性
①シンクロトロン光の利用により極めて短い時間（10分）で測定
②膜組成、合成温度によるアモルファスネットワークの細孔径変化を検出
期待される市場・応用
・ガス分離膜、多孔質材料の細孔径評価
謝 辞：本研究は、NEDO委託業務「先導研究プログラム／不燃性ガス田における高効率ヘリウム膜分離回収技術の開発」（JPNP14004）にて実施されたものである。実験は科学技術交流財団シンクロトロン光センターのBL8S3（実験番号：202504029）で行った。
担当者：永野孝幸