2026年度

JFCC研究成果集

サステナブルな未来を拓く革新材料開発と先端解析技術

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  3. ​X線回折による測定・解析技術​

5試験評価技術 ／ 構造・機能評価

T-31

2026

SDGs

​X線回折による測定・解析技術​

SDGs

技術のポイント

X線を使用し、様々な光学系を組み合わせることで目的とする情報を取得することが可能​

目的および対応測定手法

適用分野

・セラミックス、金属等無機材料全般の評価

・各種構造および分離膜、電池等機能性材料の開発

・半導体の欠陥評価

・非晶質材料の構造評価

担当者：横江大作