| 2012-1 |
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| ・手法:透過電子顕微鏡(薄片試料作製;イオン研磨法) ・評価:結晶配向、空隙形成 |
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| 図1. SDA-free 条件で合成された高Al/Si比MFI型ゼオライトの結晶形状 | |
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| 図2. ゼオライト膜中に形成されたの空隙の解析 | |
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2012年度

| 2012-1 |
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| ・手法:透過電子顕微鏡(薄片試料作製;イオン研磨法) ・評価:結晶配向、空隙形成 |
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| 図1. SDA-free 条件で合成された高Al/Si比MFI型ゼオライトの結晶形状 | |
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| 図2. ゼオライト膜中に形成されたの空隙の解析 | |
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