2020年度 研究成果 動画公開中

動画ありのテーマにつきましては、研究成果発表会で行っているショートプレゼンテーションを動画（ナレーション付きパワーポイントスライド）でご覧いただくことが可能です。ご希望の方は、お手数ですが下記よりお申込みください。

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研究成果

1革新複合材料・機能材料

• R-1耐熱性酸化物保護膜中の物質移動機構解析

  動画あり

• R-2輻射熱反射用酸化物膜中の構造安定性に及ぼす化学組成の影響

  動画あり

• R-3先進遮熱コーティング用酸化物の結晶構造と熱伝導性の関係

  動画あり

• R-4熱輻射抑制膜の開発 ～熱ロス低減・エネルギー効率向上へ～
• R-5光による応力・ひずみセンサの蛍光メカニズム解析
• R-6結晶粒界構造に基づく熱伝導度の直接予測

  動画あり

• R-7過熱水蒸気によるCFRPからの高効率炭素繊維回収技術
• R-8窒化アルミニウムのレーザー焼結
• R-9レーザー直接加熱によるSiC系共晶材料の作製

  動画あり

• R-10ベータ型ゼオライト結晶粒子の自己相似構造発現の由来解明

  動画あり

• R-11環境に配慮した高機能難燃剤の構造解析
• R-12酸素吸蔵材料YBaCo₄O_7+δの原子構造解析
• R-13対向拡散CVD法による分離膜特性および生産性の向上

2先進健康・医療材料

• R-14Bi系超電導接合領域の微細構造解析 ～次世代NMRマグネット開発～

3次世代エネルギーデバイス

• R-15次世代蓄電池固体電解質LaF₃のイオン伝導第一原理計算

  動画あり

• R-16次世代蓄電池負極MgF₂のSTEM EELSを用いた電極反応解析

  動画あり

• R-17全固体酸化物電池用原料粉末の高次構造化
• R-18GDC/YSZ界面での相互拡散が及ぼす単セル抵抗成分への影響

4高性能パワーデバイス

• R-19GaN/Siパワー半導体に形成される結晶欠陥のTEMによる構造解析

  動画あり

• R-20次世代パワー半導体酸化ガリウムの結晶欠陥分類法開発
• R-21GaN結晶加工時の模擬導入欠陥3次元構造と荷重の相関

5革新将来機能材料

• R-22SinterProを用いたプロセスシミュレーション技術の開発

  動画あり

• R-23初期焼結のモデリングと応力解析
• R-24JFCCにおけるマテリアルズインフォマティクス研究

  動画あり

• R-25酸素吸蔵材料Ca₂AlMnO_5+δにおける酸化物イオン拡散機構の研究

  動画あり

• R-26プロトン伝導体LaScO₃の第一原理計算による相安定性
• R-27Bi系複合アニオン光触媒における高活性メカニズム

6画期的微構造解析・処理技術

• R-28AI画像処理による電子線ホログラフィー電位計測

  動画あり

• R-29走査電子顕微鏡用簡易型収差補正器の開発

試験評価技術

1最先端試験評価技術

• T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用

2プロセス・加工

• T-1セラミックスの各種焼結技術
• T-2セラミックスの加工技術
• T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
• T-4電子ビームPVDによる先進コーティング技術
• T-5エアロゾルデポジション法によるセラミックス膜の形成
• T-6高温過熱水蒸気処理技術
• T-7焼結時の課題を解決！ シミュレーションソフトSinterPro
• T-8低密度･低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル

3機械特性

• T-9機械特性に関する評価技術
• T-10厚膜コーティングの耐剥離性評価
• T-11炭素およびセラミックス繊維の引張り特性評価技術
• T-12炭素繊維等の樹脂との密着性評価

4熱特性

• T-13各種測定法を用いた熱伝導率評価技術
• T-14フラッシュ法による熱拡散率・熱伝導率評価技術
• T-15フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
• T-16各手法による固体の比熱容量測定 ～低温から高温まで～
• T-17積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定

5電気特性

• T-18５Gやミリ波帯での高精度な誘電特性評価技術

  動画あり

• T-19液体材料における誘電率の温度特性評価
• T-20誘電材料の温度特性評価技術
• T-21電気抵抗評価技術
• T-22燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術

6組成分析

• T-23機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術

7構造特性

• T-24粉体および多孔質体の特性評価技術
• T-25サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
• T-26多孔質材料のガス透過率評価技術
• T-27多様な規格に対応した表面形状の評価技術
• T-28X線CTによる非破壊材料評価技術
• T-29X線回折による様々な測定・解析技術
• T-30高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術

8微構造解析

• T-31エッチピット法によるSiC単結晶の欠陥解析評価技術
• T-32EBICを用いたパワーデバイス欠陥解析
• T-33先進分析TEM JEM-F200のご紹介
• T-34FIB-SEMを用いた3次元構築

  動画あり

• T-35複合材料の断面SEM観察用試料調製技術
• T-36超高分解能走査電子顕微鏡(SEM)を用いた低加速観察・分析技術
• T-37EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
• T-38EBSD-EDS同時取得による結晶方位、相・多形分離解析技術
• T-39触媒反応のその場観察技術
• T-40電子線ホログラフィーによる半導体、磁性体、電池材料の観察

2020年度 研究成果集 PDF版

2020年度JFCC研究成果 PDF（6.2MB）　　2020年度JFCC試験評価技術 PDF（8MB）

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