2013-14

走査型電子顕微鏡による高分子フィルムの微細構造解析

走査型電子顕微鏡(SEM)を用い、導電性の低い高分子フィルムの表面および断面の微細構造観察を行った

クレーズポリプロピレンフィルムはマイクロバブル・ナノバブル発生装置、視野制限フィルム等様々な分野への応用が期待されている。しかしその微細構造は明確にはなっていない。

導電性が低く、走査型電子顕微鏡観察が困難なクレーズポリプロピレン(PP)フィルムの微細構造を明らかにする。

SEM観察条件を最適化し、また試料作製方法を工夫することによりクレーズPPフィルム表面と断面の微細構造SEM観察に成功し、以下の構造が明らかとなった。

(1)	クレーズPPフィルム表面に溝が形成され、その溝の側面と底に20nm径程度の細孔が形成されている。
(2)	クレーズがPPフィルムを貫通しており、クレーズ断面には穴径が数10nm～数100nmの細孔が形成されている。