T-36
2019

新規汎用TEM JEM-F200のご紹介

最新の汎用TEMで低倍から原子レベルまで観察可能
大面積EDS検出器を2本搭載しており元素分析に最適

日本電子（JEOL） JEM-F200

主な仕様

《TEM本体》

・電子銃： Cold-FE電子銃
・ポールピース： HRP

・TEM分解能： 0.23nm（構造像） @200kV
・STEM分解能： 0.16nm@200 kV

・対応加速電圧： 200kV、120kV、80kV、60kV

・収差補正器なし

《各種検出器》

・EDS：日本電子JED-2300 SDD
　　100 mm² ×2本（1.7 str）
Thermo Scientific Pathfinder
・EELS： Gatan Enfina(移設)
・CCD： Gatan US1000、OriusSC200(移設)

・STEM明視野/暗視野検出器、反射電子検出器

・TEM/STEM観察全般、EDS元素分析、EELS測定
・オープンラボ、機器利用にも対応

謝辞

：

本装置の導入にあたりご尽力を頂きました日本電子（株）の関係各位に感謝申し上げます。