研究成果

1革新環境材料

• R-1Ca-Mg-Fe-Al-Si-O溶融物に対する環境遮蔽膜の腐食機構
• R-2環境遮蔽膜中の物質移動機構の体系的理解
• R-3エアロゾルデポジション法における噴射ノズルへの超音波印加効果
• R-4レーザー直接加熱による反応焼結SiCの開発

  動画あり

• R-5過熱水蒸気処理によるアルミナ前駆体の分解および相転移促進
• R-6表面プラズモンによる赤外輻射コントロール

  動画あり

• R-7炭化ケイ素系ガス分離膜の細孔径制御
• R-8ウイルス検出用のカルボキシ基修飾マグネタイト微粒子の合成

2高性能パワーデバイス

• R-9実験室系XRDによる単結晶基板結晶面湾曲の3D可視化技術

  動画あり

• R-10GaNウエハ上スクラッチからの転位発生とエピ膜中の転位反応

3先進微構造解析・処理技術

• R-11小惑星リュウグウで形成された磁性ナノ粒子のホログラフィー観察
• R-12電子直接検出器と機械学習を用いた電磁場計測の高精度化
• R-13OBF STEM法による超高感度ゼオライト原子構造直接観察
• R-14透過EBSD法を用いたGdBa₂Cu₃Oy超電導層の歪および欠陥構造解析
• R-15卓上型走査電子顕微鏡を用いた電子線誘起蒸着システムの構築

4次世代エネルギーデバイス

• R-16LaCoO₃系材料を用いた電極／中間層／電解質界面の微細構造制御
• R-17大気圧走査電子気顕微鏡による電気化学反応その場観察

  動画あり

• R-18電気化学反応のその場電子顕微鏡観察に向けたMEMSチップ開発
• R-19固体電解質CeF₃におけるフッ化物イオン伝導の第一原理計算
• R-20フッ化物イオン電池正極合金のフッ化・脱フッ化過程解析
• R-21複合アニオン化合物Ba₂H₃X中のショットキー欠陥とヒドリド伝導

  動画あり

• R-22中性子準弾性散乱と理論計算によるLiイオン伝導機構解析
• R-23リチウムイオン電池用正極膜内部の充放電による構造変化
• R-24逆格子一致法によるエピタキシャル薄膜の幾何学的格子整合性評価
• R-25酸素吸蔵材料YBaCo₄O_7+δの低温焼成に伴う欠陥形成
• R-26半導体結晶における点欠陥濃度の理論解析手法開発

  動画あり

• R-27プロトン伝導セラミック燃料電池空気極材料LaMO₃の溶解性評価
• R-28ペロブスカイト型酸化物におけるプロトン溶解エネルギー解析

5プロセスインフォマティクス

• R-29セラミックスの成形～焼結プロセスシミュレーション
• R-30不均質成形体焼結時の変形と内部応力の数値計算

試験評価技術

• T-0ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用

1加工・プロセス

• T-1セラミックスの加工技術
• T-2新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術
• T-3噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術
• T-4電子ビームPVDによる先進汎用コーティング技術
• T-5高温過熱水蒸気処理技術
• T-6焼結シミュレーションSinterPro -新材料開発の支援ツール-
• T-7低密度・低熱伝導率特性を有する各種屈折率のシリカエアロゲル

2機械特性

• T-8機械特性に関する評価技術
• T-9高温雰囲気における機械特性評価
• T-10強化繊維の引張特性評価技術
• T-11炭素繊維等の樹脂との密着性評価
• T-12厚膜コーティングの耐剥離性評価

3熱特性

• T-13各種測定法を用いた熱伝導率評価技術
• T-14フラッシュ法による遮熱コーティング膜の熱伝導率評価
• T-15各手法による固体の比熱容量測定～低温から高温まで～
• T-16積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定
• T-17高温X線回折を用いた粉末試料の熱膨張率評価技術

4電気特性

• T-18ミリ波帯での高精度評価技術～５G通信、自動運転への貢献～
• T-19多層構造のGHz帯複素誘電率および温度依存性評価技術
• T-20誘電材料の温度特性評価技術
• T-21液体材料における誘電率の温度特性評価
• T-22誘電材料のミリ波帯評価技術
• T-23SOEC／SOFC用電極材料の試作と特性評価
• T-24雰囲気制御下における界面由来抵抗評価技術
• T-25燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術
• T-26セラミックス材料の電気抵抗評価技術

5構造特性

• T-27粉体および多孔質体の特性評価技術
• T-28サブナノ～ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価
• T-29多孔質材料のガス透過率評価技術
• T-30X線CTによる材料評価技術
• T-31X線回折による様々な測定・解析技術
• T-32高温X線回折によるIn-situ測定・解析技術
• T-33機能性材料の構造･化学結合の分析評価技術

6微構造解析

• T-34エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術
• T-35EBICを用いたパワーデバイス欠陥解析
• T-36超高分解能走査電子顕微鏡（SEM）を用いた低加速観察・分析技術
• T-37積層構造体の断面SEM観察用試料調製技術
• T-38EBSD法を用いた微細領域高精度歪み解析技術
• T-39EBSD-EDS同時検出による結晶方位および相分離解析技術
• T-40FIB-SEMを用いた3次元構築
• T-41先進分析TEM JEM-F200のご紹介
• T-42触媒反応のその場観察技術
• T-43電子線ホログラフィーによる半導体、磁性体、電池材料の観察

2022年度 研究成果集 PDF版

2022年度JFCC研究成果 PDF（15.0MB）　　2022年度JFCC試験評価技術 PDF（19.2MB）

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