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| R-16 | Li過剰系正極活物質ドメイン境界におけるLi拡散現象の解明 |
| 第一原理計算を用いてLi過剰系正極活物質中に存在するドメイン境界近傍でのLi拡散挙動を解明 | |
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| R-17 | 化学溶液法によるLiCoPO4正極膜の作製と微細構造解析 |
| LiCoPO4正極材の配向膜の形成挙動と原子レベルの結晶構造解析 | |
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| T-1 | ファインセラミックスセンターの試験評価、機器利用 |
| 長年培ってきた高精度な試験評価技術及び高性能な各種研究設備をご利用頂くことが出来ます | |
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| T-2 | 新規材料開発・研究に貢献するセラミックス製造技術 |
| これまでに培った原料調製から焼結までの高度な技術と保有する多様な装置により、セラミックスの材料開発に貢献する | |
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| T-3 | 高精度加工技術 |
| 切断・研削・研磨の高精度加工装置を保有し、目的に合った高精度な試験片作製が可能 | |
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| T-4 | 電子ビームPVDによるコーティング技術 |
| 電子ビームPVD（国内唯一の大型装置）により、様々な基材に高速でセラミックスなどのコーティングが可能 | |
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| T-5 | 様々な焼結現象を模擬できる焼結シミュレーションソフトウェア |
| 焼結シミュレーションソフトウェアSinterProは、様々な焼結材料の開発支援や焼結問題解決に活用可能 | |
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| T-6 | 噴霧熱分解法によるセラミックス粒子合成技術 |
| 粒子径が揃った微粒子が合成可能 ２相以上からなる複合微粒子を単一プロセスで合成可能 |
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| T-7 | 液相合成によるナノ粒子合成技術 |
| ・粒子径が揃ったナノ粒子合成が可能 ・微粒子への表面コートが可能 |
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| T-8 | 各種屈折率のエアロゲル合成 |
| 微構造を制御し各種屈折率を有するシリカエアロゲルの合成・頒布 | |
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| T-9 | 炭素およびセラミックス繊維の引張り強さ、密着性評価技術 |
| CFRP等繊維強化複合材料に用いられる繊維の引張り強さおよび樹脂との密着性(界面せん断強度）を実測 | |
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| T-10 | 高温高圧水環境下における水熱腐食、摩耗評価技術 |
| 国内屈指の高温高圧水中環境における耐腐食性及び耐摩耗性の評価技術 | |
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| T-11 | 多様な規格に対応した表面形状の評価技術 |
| 最新の3次元表面粗さ解析ソフト導入により多様な規格に対応また、凹凸部の自動体積計算など迅速に3次元解析が可能 | |
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| T-12 | 機械特性に関する評価技術 |
| セラミックスを中心とした各種材料の機械的特性に関する基礎物性および信頼性評価技術の紹介 | |
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| T-13 | 誘電材料のミリ波帯評価技術 |
| 車載用衝突防止レーダー等のミリ波電子デバイスにおける安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与 | |
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| T-14 | 誘電材料の温度特性評価技術 |
| 誘電材料の温度特性を把握することで、電子デバイスの安全性・快適性・省エネルギー性能の向上に寄与 | |
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| T-15 | 電気抵抗評価技術 |
| ・被測定物の抵抗値により測定方法を2種類から選択 ・高温（〜1200℃）及び各種雰囲気での測定も可能 |
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| T-16 | 薄板試料の熱伝導率評価技術 |
| 厚さ1mm以下の薄板試料でも、厚さ方向・面内方向の熱伝導率（熱拡散率）が評価可能 | |
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| T-17 | 粉体特性の評価技術 |
| 粉体粒子や多孔質体の物性を様々な手法で測定 | |
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| T-18 | 後方散乱電子回折法による結晶方位解析技術 |
| 後方散乱電子回折(EBSD)法により、結晶粒一つ一つの方位や粒径分布、隣り合う結晶粒のずれ角等の解析が可能 | |
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| T-19 | X線回折による結晶相同定 |
| 高出力X線源(15kW)による結晶相の同定及び格子定数の測定 薄膜試料への対応も可能（出力1.6kW) |
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| T-20 | 機能性材料の構造・化学結合の分析評価技術 |
| 化学結合状態・構造・光学的特性の多面的評価を通じて新規材料の開発に貢献 | |
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| T-21 | 造影剤を使ったX線CT撮影技術 |
| 表面開口したクラックに造影剤を含浸して識別感度を向上させ、X線CTにより内部の三次元形状を明瞭化する | |
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| T-22 | デュアルビームFIB-SEM装置を用いた三次元解析技術 |
| FIBによるスライス加工とSEMによる断面観察を連続的に行い取得した多数のSEM像をコンピュータで三次元再構成 | |
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| T-23 | 積分球を用いた反射法による赤外線放射率の測定 |
| FTIRに積分球を取り付けることで、拡散成分を含めた分光反射率を測定することができる | |
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| T-24 | モノクロメータ収差補正STEMによる微細構造解析・分析 |
| 収差補正STEMの空間分解能と高精度EELSによる観察・分析 | |
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| T-25 | 積層構造体の断面SEM観察用試料調製法検討 |
| 積層構造体の断面SEM観察を行う際、観察目的や分析内容によって最適な試料調製法を選択 | |
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| T-26 | 超高分解能走査型電子顕微鏡(SEM) |
| 低加速電圧＆無蒸着にて、電子線に弱い材料や非導電性材料の試料再表面の微細構造観察を行うことが可能 | |
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| T-27 | 収差補正電子顕微鏡によるソフトマテリアル観察 |
| 対物レンズの球面収差および焦点外し量を最適化することによりソフトマテリアル中の軽元素を可視化する | |
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| T-28 | 電子線ホログラフィーを用いた電子材料、磁性材料の定量観察 |
| 機能材料の電場や磁場を直接かつ定量的に観察、計測 | |
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| T-29 | 燃料電池・固体電解質の電気化学評価技術 |
| 固体酸化物形燃料電池（SOFC）の単セルの評価技術と電解質のイオン導電性評価技術 | |
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| T-30 | 超高真空中破壊試験による材料組織内在ガスの質量分析 |
| 10-7Pa以下の超高真空下での曲げおよび引張試験を行い、試料から放出される微量ガスを四重極質量分析計により分析 | |
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| T-31 | サブナノ〜ミクロンオーダーの細孔径分布測定による機能性評価 |
| 液体、気体透過に関わる貫通孔の機能性を特徴づけるネック部の細孔径分布を、非破壊で評価 | |
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| T-32 | エッチピット法によるSiC結晶の欠陥解析評価技術 |
| エッチピット法により、SiCウエハ欠陥を簡便かつ安価で多面的に評価・解析が可能 | |
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| T-33 | ガラス精密研磨におけるCMP用スラリー寿命評価技術 |
| ・研磨用スラリーあるいは研磨用パッドの劣化評価 ・精密研磨用スラリーあるいは研磨用パッドの開発支援 |
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| T-34 | SOFC用多孔質電極材料のガス透過率評価技術 |
| 緻密電解質上に形成された多孔質電極のガス透過率を非破壊で評価可能 | |
