試験評価

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1-4. 材料試験 | 粉体特性

 粒子径分布はレーザー回折散乱法の装置を有し、試料調整は分散法を初めとして豊富な知見に基づいて行います。真密度、比表面積はガス吸着法による迅速自動測定、細孔分布は水銀圧入法による測定、ゼータ電位は電気泳動法と超音波法による低濃度から高濃度の測定が可能です。これらにより原料粉体から高濃度スラリーまで総合的な測定評価が可能です。

種別 項目 単位 単価(円)
粒度分布測定 (前処理条件、測定条件等全て決まっている場合)
レーザー回折散乱法(乾式も可) 1試料 30,000
水以外の分散媒使用の場合 -- 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
粉末真比重測定 (オートピクノメーター) 1試料 40,000
種別 項目 単位 単価(円)
細孔分布測定 水銀ポロシメーター法 1試料 68,000
種別 項目 単位 単価(円)
比表面積測定 (脱気条件:200℃、60分、N2吸着)
BET3点法 1試料 50,000
脱気条件を振る場合 1試料 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
ζ電位測定 超音波法:高濃度系 1試料 24,000
等電位点測定(標準5pH) 1試料 100,000
解析及び補足データが必要なとき -- 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
粒子破壊強度 微小圧縮試験法 1試料 55,000
上記の単価には消費税を含みません
種別 項目 単位 単価(円)
顆粒径分布 レーザー回折散乱法 1試料 33,000

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粒度分布測定 レーザー回折散乱法

粒度分布測定 レーザー回折散乱法の図

粉末真比重測定(オートピクノメーター)

粉末真比重測定(オートピクノメーター)の図

細孔分布測定 水銀ポロシメーター法

細孔分布測定 水銀ポロシメーター法の図

比表面積測定

比表面積測定の図

ζ電位測定 超音波法:高濃度系

ζ電位測定 超音波法:高濃度系の図

粒子破壊強度 微小圧縮試験法

粒子破壊強度 微小圧縮試験法の図

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