試験評価

Testing & Evaluation Services

1-3.材料試験 | 電気特性

 誘電率、導電性(抵抗率)などの試験を行います。誘竜率は100Hz ~ 110GHzの広範囲領域の測定が可能で、特にGHz領域(マイクロ波、ミリ波)は測定の標準化の研究も行っており、JIS規格又はJIS規格案による高精度測定が可能です。5.6GHz ~ 110GHz領域は自由空間法による電波吸収特性の測定も可能です。

種別 項目 単位 単価(円)
試料調整
(電極処理)
高温用 1試料 24,000
室温用 1試料 3,000
種別 項目 単位 単価(円)
誘電率測定
(ε,tanδ)
周波数:100Hz~100KHz
室温 1試料 25,000
  追加1試料 13,000
100℃~500℃未満 1試料 35,000
500℃~1000℃ 1試料 38,000
温度1水準加わる毎に -- 8,000 加算
周波数:100KHz~1MHz
室温 1試料 25,000
  追加1試料 13,000
100℃~500℃未満 1試料 35,000
500℃~1000℃ 1試料 38,000
温度1水準加わる毎に -- 8,000 加算
周波数:10MHz~1GHz
室温 1試料 45,000
  追加1試料 13,000
-30℃~80℃ 1試料 67,500
温度1水準加わる毎に -- 11,000 加算
周波数:2.5Ghz、3GHz、5GHz~25GHz(JISR1627)(JISR1641)
室温 1試料 70,000
追加 1試料 20,000
周波数:50GHz~80GHz(JISR1660-1)
室温 1試料 70,000
  追加1試料 20,000
液体試料(500MHz~50GHz)
室温 1試料 38,000
  追加1試料 22,000
温度特性 1試料 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
透磁率測定 周波数:10MHz~1GHz 室温 1試料 45,000
  追加1試料 13,000
テストピース作製 1試料 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
抵抗率測定 106Ω・cm~1016Ω・cm
室温 1試料 24,000
100℃~500℃ 1試料 34,000
500℃を越え1000℃ 1試料 54,000
1000℃を越え1200℃ 1試料 64,000
温度1水準加わる毎に -- 7,700 加算
表面抵抗率 1試料 別途相談
10-5Ω・cm~102Ω・cm
室温 1試料 24,000
100℃~500℃ 1試料 34,000
500℃を越え1000℃ 1試料 54,000
1000℃を越え1200℃ 1試料 64,000
温度1水準加わる毎に -- 7,700 加算
種別 項目 単位 単価(円)
交流インピーダンス法による導電率測定 導電率測定 - 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
SOFC単セルの発電試験評価 SOFC単セルの発電試験評価 -- 別途相談
種別 項目 単位 単価(円)
ホール係数測定 室温測定 1試料 19,000
80K~473K -- 別途相談
上記の単価には消費税を含みません
種別 項目 単位 単価(円)
電波吸収特性 電波吸収特性(自由空間法・室温)(JISR1679) 1バンド1試料 35,000
追加バンド1試料 35,000
バンドC(5.6~8.2 GHz)
バンドX(8.2~12.4 GHz)
バンドKu(12.4~18.0 GHz)
バンドK(18.0~26.5 GHz)
バンドKa(26.5~45.0 GHz)
バンドV-1(45.0~67.0 GHz)
バンドV-2(67.0~75.0 GHz)
バンドW(75.0~110.0 GHz)
-- 同一バンドの
追加1試料
19,000
100℃~1000℃ -- 別途相談
角度条件等の変更 -- 別途相談

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誘電率測定方法

誘電率測定方法の表

遮断円筒導波管法

ファブリーぺロー法、装置の外観と概略図

高温マイクロ波吸収率の測定

高温マイクロ波吸収率の測定原理

自由空間法(Sパラメータ法)

自由空間法とは?
開かれた空間で電磁波を照射し、その電磁波に対する反射特性の評価を行う方法

自由空間法、装置の外観と測定原理

抵抗率測定方法(直流3端子法、直流4端子法)

自由空間法、装置の外観と測定原理

直流3端子法 抵抗率測定装置

直流3端子法(絶縁材料)

直流4端子法 抵抗率測定装置

直流3端子法の図

直流3端子法、直流4端子法による抵抗率測定例

抵抗率測定装置と主な仕様

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